Chroma真無線藍芽耳機測試解決方案滿足高階與基礎測試需求

Chroma真無線藍芽耳機測試解決方案滿足高階與基礎測試需求

桃園2020年2月20日 /美通社/ -- Chroma ATE Inc. 致茂電子推出真無線藍芽耳機(True Wireless Stereo,以下簡稱 TWS)晶片完整測試方案,整合無線 RF、MCU 測試、數位電路、類比電路,以及音頻混合訊號量測。超高性價比的 Chroma 3380測試系統滿足價格敏感的晶片設計商,進階版 Chroma 3680測試系統,能提供快速且完整的測試方案,滿足高階高感度的 TWS 晶片測試需求。

TWS 晶片在近年來應用越來越廣泛,從剛開始僅限於安裝在耳機內,處理藍芽與音頻訊號的單純晶片,TWS 使用的晶片已經發展到智慧音箱、無線音箱,甚至穿戴裝置都可以共用。也因功能急速整合,測試從單純的無線藍芽測試、數位測試與音頻測試,延伸到電源、記憶體、甚至感測器等。

Chroma 半導體測試解決方案在各種半導體測試應用耕耘多年,高度軟體與硬體整合已獲業界肯定,可同時提供價格合理、品質精良的數位與類比測試,Chroma 3380在中國 MCU 市場更是位居領先地位,除了可以測試 Bluetooth RF 外,在音頻測試表現上可提供超過90dB 的信噪比,一站完成所有測試需求。針對高階高感度產品,Chroma 3680系列可以進行高速訊號測試,提供精準的電壓電流測試,其混合訊號測試更提供超過 110dB的信噪比,加上快速 RF 訊號連接介面,可更穩定測試高階 TWS 產品。

圖標- https://photos.prnasia.com/prnh/20200220/2725779-1logo?lang=2
  • 新聞關鍵字: 半導體

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