田中貴金屬工業發表新產品半導體檢測設備用鈀合金材料「TK-SK」

作為鈀合金材料，其硬度達到了640HV
在半導體檢測設備的應用上，減輕了因探針磨損造成的變形問題
並貢獻於檢測設備的長壽命化與低成本化

東京, 2024年10月17日 - (亞太商訊) - 田中貴金屬集團核心企業——以產業用貴金屬展開事業的田中貴金屬工業株式會社（總公司：東京都中央區，執行總裁：田中 浩一朗）宣布成功開發出應用於半導體封裝的後段中，進行最終測試的探針用鈀（Pd）合金材料「TK-SK」。本產品將於2024年10月24日至25日，在福岡縣舉辦的「SWTest Asia 2024」上進行展覽板展示，並預計於年底前開始提供樣品。

田中貴金屬工業製造並提供各種貴金屬探針用材料，將其運用在半導體前段製程和後段製程中實施檢測的設備。本次將要宣布的「TK-SK」，作為探針用的鈀合金材料，具備最大硬度640HV，因此主要設定其用途為測試插座，應用於後製程中通電試驗的最終測試。

近年來，雖然高硬度探針的需求不斷增加，但硬度越高，材料的加工就會愈加困難，像是進行切削加工時會發生破損這類的課題，且目前在市場上流通的鈀合金類材料的硬度，最大只到560HV左右。此次，田中貴金屬工業利用獨特的加工技術，已成功將本產品的硬度開發到640HV。針對本產品，本公司目標於2028年前達到既有產品出貨量的1.5倍。

對於測試插座，用來當作探針的是彈簧針（POGO PIN）型的探針。進行檢測時，由於探針的尖端（Plunger）與基板接觸時會產生摩擦，就會因磨損而變形。此外，銲錫材料可能會附著在Plunger上，需要刮掉銲錫材料進行清潔，此時Plunger也會因磨損而變形。檢測設備的探針會因檢測過程導致變形，而需要定期維護，但透過使用高硬度的探針，可以降低減輕半導體檢查設備中的探針因磨損造成的變形，可期貢獻於檢測設備的長壽命化與低成本化。

今後，半導體市場預計仍將不斷擴大，田中貴金屬工業的目標即是為其發展做出貢獻。

「TK-SK」產品性質參考值
https://www.acnnewswire.com/docs/Multimedia/20241017.TanakaCT.png

參展展示會詳情
- 展示會名稱：SWTest Asia 2024
- 展覽期間：2024年10月24日10:00～15:30、10月25日10:00～16:00
- 會場：福岡海鷹希爾頓飯店（福岡縣福岡市）
- 官方網站：https://www.swtestasia.org/
- 參展公司：田中貴金屬工業株式會社
- 攤位編號：210
- 展覽板展示內容：探針用鈀合材料「TK-SK（線）、TK-FS（線、板）」、探針用銅銀合金材料「TK-101（板）」、探針卡用貴金屬電鍍液

關於田中貴金屬集團

田中貴金屬集團自1885年（明治18年）創業以來，營業範圍向來以貴金屬為中心，並以此展開廣泛 活動。在日本國內，以最高水準的貴金屬交易量為傲的田中貴金屬集團，長年以來除了進行產業用貴 金屬產品的製造和販售外，也供應貴金屬製作珠寶飾品和投資型貴金屬商品。本集團以貴金屬專業團隊之姿，旗下的國內外各集團公司協調合作，使製造、販售與技術一體化，並供應相關產品與服務。2023 年度（2023年12月止）的合併營業額為6,111億日圓，擁有5,355名員工。

產業事業全球網站
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產品諮詢表
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新聞媒體諮詢處
田中控股株式會社
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