JEOL：推出新款Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810

JEOL：推出新款Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810

(中央社訊息服務20240731 15:03:29)- 利用自動化技術提高了從儀器調整到觀察和分析的操作效率- 東京--(美國商業資訊)-- JEOL Ltd.(TOKYO:6951)(總裁兼執行長：Izumi Oi)宣佈將於2024年7月28日發佈新款Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810。場發射掃描電子顯微鏡(FESEM)廣泛應用於科研機構、大學和工業等科技領域。人們越來越需要一種從觀察到分析都可以輕鬆、準確、快速、高效使用的儀器。 JSM-IT810在JSM-IT800的基礎上增加了「Neo Action」自動觀察和分析功能以及自動校準功能，並配備了新一代電子光學控制系統「Neo Engine」和「SEM Center」，實現了Zeromag和EDS整合等高操作性，不僅可以提高效率和生產力，還有助於解決勞動力短缺問題。本新聞稿包含多媒體資訊。完整新聞稿請見此： https://www.businesswire.com/news/home/20240729545599/zh-HK/主要功能 1.自動觀察和分析功能「Neo Action」您只需選擇SEM影像擷取條件和視場，該功能就會自動執行SEM觀察和EDS(能量色散X射線光譜)分析。 該功能有助於提高日常工作(包括分析工作)的效率。 2.自動校準功能「SEM Automatic Adjustment Package」該功能可自動執行校準調整、放大率調整和EDS能量校準中的選定項目。 3.「Live Function」該功能具有「即時3D」、「即時分析」和「即時地圖」功能。在進行SEM觀察的同時，可現場構建3D影像，以獲取凹凸和深度資訊。此外，它還有助於始終顯示特徵X射線光譜和元素映射。 4. EDS 整合 SEM觀察和EDS分析整合在一起。可以從觀察螢幕執行點、區域和MAP的分析。結合無窗EDS-Gather-X可以實現從Li中進行檢測，並以高靈敏度和高空間解析度進行分析。 年度設備銷售目標 220台設備/年相關連結產品咨詢：Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810 https://www.jeol.com/products/scientific/sem/JSM-IT810.php JEOL Ltd. 3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan 總裁兼執行長Izumi Oi (股票代碼：6951，東京證券交易所主要市場板塊) www.jeol.com 免責聲明：本公告之原文版本乃官方授權版本。譯文僅供方便瞭解之用，煩請參照原文，原文版本乃唯一具法律效力之版本。